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  • LW-20JPW高低溫高濕鍵盤打擊壽命試驗(yàn)機(jī)

    高低溫高濕鍵盤打擊壽命試驗(yàn)機(jī)主用于模擬在不同溫度、濕度下測(cè)試按鍵(silicon switch硅膠按鍵 、metal dome金屬彈片按鍵、手機(jī),觸摸屏等點(diǎn)擊壽命耐久測(cè)試),具備次數(shù)自動(dòng)記憶、掉電記憶、壽命次數(shù)累計(jì)、達(dá)到所設(shè)定次數(shù)自動(dòng)停機(jī)等功能。另新增加了位置和間距可調(diào)功能。氣動(dòng)式按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)尤其適用于筆記本鍵盤、手機(jī)按鍵、對(duì)講機(jī)按鍵、汽車中控按鈕作疲勞測(cè)試。 測(cè)試軟件自主研發(fā),用戶可以非標(biāo)定制

    更新時(shí)間:2025-05-05
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  • LW-1539PAD坐壓軟壓疲勞壽命測(cè)試機(jī)

    PAD坐壓軟壓疲勞壽命測(cè)試機(jī)原理說明:系統(tǒng)采用觸摸屏與PLC通訊,控制伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)滾珠絲杠,使升降機(jī)構(gòu)做上下重復(fù)按壓動(dòng)作,同時(shí),測(cè)力傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電壓變化,并反饋給PLC,記錄坐壓過程中力的變化,并顯示在觸摸屏上。

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  • LW-1539平板手機(jī)軟壓坐壓試驗(yàn)機(jī)

    平板手機(jī)軟壓坐壓試驗(yàn)機(jī)適用于手機(jī)、PAD等小型電子類產(chǎn)品的擠壓測(cè)試。執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)YD/T 1539-2006。主要是模擬電子產(chǎn)品在被人等坐壓情況下的耐壓測(cè)試。

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  • LW-1302-3耳機(jī)使用耐久模擬測(cè)試機(jī)

    耳機(jī)使用耐久模擬測(cè)試機(jī)采用三工位的設(shè)計(jì)機(jī)構(gòu),讓設(shè)備測(cè)試效率高,更加可靠和完善耐用,本機(jī)具有速度、行程、計(jì)數(shù)可調(diào)節(jié)之動(dòng)能。是頭戴式耳機(jī)之耳夾疲勞壽命測(cè)試之利器,適用于工廠、科研院校作開發(fā)、評(píng)估之用。

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  • LW-1302-3耳機(jī)模擬壽命耐久試驗(yàn)機(jī)

    耳機(jī)是我們常用的一款電子產(chǎn)品,給我們用戶帶來諸多的便利。在使用過程中,會(huì)設(shè)計(jì)到前后左右上下的一些拉扯,且比較頻繁。耳機(jī)生產(chǎn)廠家為了評(píng)估耳機(jī)在推出市場(chǎng)后的使用壽命,減少品質(zhì)投訴,需要開發(fā)一款耳機(jī)模擬壽命耐久試驗(yàn)機(jī)。

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  • LW-504屏幕點(diǎn)擊劃痕壽命試驗(yàn)機(jī)

    屏幕點(diǎn)擊劃痕壽命試驗(yàn)機(jī)開發(fā)目的: 觸摸屏到終端客戶的使用環(huán)境中,會(huì)被頻繁的點(diǎn)擊觸繼,為了保證其使用壽命減少客戶投訴。所以觸摸屏生產(chǎn)廠家在產(chǎn)品研發(fā)的驗(yàn)證和成品量產(chǎn)后都需要進(jìn)行點(diǎn)擊劃痕測(cè)試。

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